Chroma 19501-K局部放电测试器内建交流耐电压测试(Hipot Test)与局部放电(PartialDischarge,PD)侦测功能于一单机，提供交流电压输出0.1kV~10kV,漏电流测量范围0.01μA~300μA,局部放电侦测范围1pC~2000pC,针对高压半导体元件与高绝缘材料测试应用所设计与开发。