建议通过改变直流电压的同时同步测量微小电流来评估 PD 和 APD 的 I-V 特性。

测试对象

光电二极管和雪崩光电二极管的 I-V 特性评估

市场背景

预计无线通讯处理的数据量将会增加，例如下一代通信标准（如 5G）的普及、V2X（Vehicle to Everything）等车对车通讯和远程医 疗。在通过电缆传输信号时，高速传输大量数据过程中可能会出现丢失和延迟时间。 因此，使用PD（光电二极管）和APD（雪崩光电二 极管）等具有光电特性的半导体作为光接收元件的光通讯备受关注。

PD和APD是转换光能和电能的元件。
该结构类似于pn结二极管，并显示出如图所示的电压-电流特性（I-V特性）。（遮光的较暗状态下的特性） 光电二极管受光照时，I-V特 性下降。此时，偏移的电流值称为光电流。由于光电流随着光的强度而增加，因此通过检测光电流，被用作光学传感器。 由于光电流是从阴极流向阳极的电流，因此通常与施加到光电二极管的反向电压一起使用。

问题

I-V特性作为PD和APD的主要电气特性之一，一般采用直流电压源和微安表测量。但是，由于要根据直流电压值来评价电流值，因此需要 测量仪器之间的同步，从而存在控制和系统配置变得复杂的问题。

解决方案

超绝缘表SM7110是一款配备直流电源和微小电流表的测量仪器，可控制0.1V至1000V的宽范围直流电压和最小量程为20pA（分辨率 0.1fA）的微小电流。可以在改变直流电压的同时同步测量微小电流。如果使用HIOKI日置网站上发布的免费软件“SM7000 系列采样应 用软件（SM7110、SM7120、SM7420）”，即可以轻松地获得测量结果的图表。

使用仪器

实测数据